Тестер микросхем FORMULA® HF3

Прочие измерительные или контрольные приборы, приспособления и машины

Тестеры на платформе FORMULA® HF3 предназначены для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 512 и частотой функционирования до 200 МГц.
Область применения Тестеров — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая:
• Испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем,
• Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные,
• Сертификационные испытания,
• Входной контроль.
Основные технические характеристики и функциональные возможности:
- Частота функционального контроля на канал – до 200 Мгц,
- Количество двунаправленных каналов – до 512,
- Общая временная погрешность (OTA) - 700 пс,
- Объем памяти векторов/ошибок - 64 М.